تحصيلات تکميلي

نام و نام خانوادگي : فرهاد بافکار

دانشکده : فني و مهندسي

استاد راهنما : دکتر ناصر موحدي نيا-دکتر ناصر نعمت بخش

تاريخ دفاع : 2/4/83

رشته و گرايش : کامپيوتر-معماري کامپيوتر

استاد مشاور : -

ارزيابي کارايي تست ضد تصادفي در تشخيص اشکالات سيستمهاي خود آزمايشي داخلي

چکيده

مساله تست مدارهاي ديجيتال و آزمايش صحت كاركرد آنها خصوصا در مدارهاي مجتمع با اندازه بسياروسيع 1(VLSI) از اهميت بسياري برخوردار است.

وجود هرگونه اشكال در داخل مدارهاي VLSI باعث پديد آمدن مشكلات بسياري ميگردد. به دليل بالا بودن مدت زمان تست كامل مدار به ازاي تمام نمونه هاي ورودي ، بسته به نوع مدار ، اغلب عمليات تست با نمونه هاي تصادفي انجام ميپذيرد. آخرين تكنولوژي توليد نمونه‌هاي تصادفي، روش ضد تصادفي (آنتي رندم 2) ميباشد. در اين شيوه با استفاده از ماكزيمم فاصله همينگ و يا كارتزين بين نمونه هاي تصادفي ، نمونه بعدي مشخص مي شود. ميزان قدرت نمونه هاي ورودي در اين روش براي آشكار سازي اشكالات بسيار چشمگير ميباشد.

بدليل خصوصيت تصادفي شيوه تست، در صورت بروز اشكال معمولا تعدادي از اشكالات موجود در مدار به ازاي نمونه هاي آشكار كننده قابل آشكار سازي نميباشند. لذا اطمينان از وجود و يا عدم وجود اينگونه اشكالات نيازمند دادن شماري چند از نمونه هاي ورودي به مدار است. سئوالي كه در اينجا مطرح ميگردد اين است كه تعداد نمونه ها براي N بار آشكار سازي يك اشكال موجود در مدار چقدر است؟ با اطلاع از تعداد نمونه هاي لازم براي آشكار سازي يك اشكال به تعداد N بار مي‌توان به كارايي آلگوريتم تست پي برد.

در اين مقاله طول تست مربوط به نمونه هاي ضد تصادفي براي N بار تشخيص اشكالات موجود در مدارهاي VLSI تحليل گرديده و با كمك تكنولوژي خود آزمايشي داخلي 3(BIST) مورد ارزيابي و اندازه گيري قرارگرفته است. سپس اين شيوه تست روي مدار بنچ مارك ISCAS85 C432 شبيه سازي شده و نتايج آن با محاسبات انجام گرفته، مقايسه شده است.

1) Very Large Scale Integrated Circuit

2) Anti Random

3) Built In Self Testing